技術文章
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2021-429
日本Lasertec共聚焦顯微鏡在Si基板上透明薄膜的表麵凹凸形狀測定概要基板上塗覆透明膜的樣品,其表麵形狀經常用激光顯微鏡或幹涉儀測量。但是受到基板反射光的影響,1um程度(或更薄)的透明膜的表麵形狀難以測定。這裏介紹基於反射分光膜厚測試的,Si晶圓上光刻膠的表麵形狀測試案例。緒論對於樹脂類、金屬類製品等,其表麵的幾十納米的凹凸形狀,通常可以用共聚焦顯微鏡測試。但是對於金屬等高反射率基板上的薄膜表麵的形狀測試,在基板反射率明顯高於薄膜反射率時,經常無法正確測定。例如,考慮如...
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2020-116
幾十年來,硫係紅外玻璃(硫屬化合物)一直被認為是“稀少品種”。對於依賴於紅外波段的數量很小的一部分應用,現有的其他紅外材料能夠很好地滿足應用,因此,市場對硫係玻璃的需求相當有限。隨著一係列潛在應用的出現,以及人們對更小、更輕、且不需要昂貴的內部冷卻係統的紅外設計越來越感興趣,使人們對硫係玻璃產生了新的興趣。因此,香蕉视频免费下载看到了新的市場需求、高質量硫係玻璃產品隨之增多,產品的技術說明也更加全麵幾年前,大多數紅外係統一般隻應用於軍事和工業領域。如今紅外成像係統的應用已經逐步拓展到其他...
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2020-1013
Q:無法衡量壓力?A:香蕉视频免费下载正在測量的是延遲(相位差)。在光彈性效應中,當將應力和厚度施加到每種材料的光彈性常數時,會發生延遲。數據處理選項還具有輸入光彈性常數和厚度並以應力為單位顯示它們的功能。但是,它受形狀的影響,因此香蕉视频免费下载不能保證數值。Q:不能測量折射率分布(折射率差)嗎?A:我無法衡量。香蕉视频免费下载測量的不是折射率的值,而是取決於偏振方向的折射率差。Q:你可以測量甚至是半透明的嗎?A:這取決於程度。要求進行演示評估以親自體驗。請事先了解,測量值可能會因半透明程度而有所不同。Q:分...
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2020-1013
透明物體由於不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因,其內部會產生內應力,引起雙折射,晶體物質本身具有雙折射的光學特征。應力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學補償原理,通過對樣品的光程差的定量測定,確定樣品應力雙折射的大小。日本PHL公司應力雙折射儀的原理:當光穿透具有雙折射特性的透明物質時,光的偏光狀態會產生變化。換句話說,比較光穿透物體前之後的偏光狀態,即可評估物質的雙折射。該設備裝配的偏光感應器,使用了日本PHL公司*的光子晶體技術組裝而成的偏光感應器,能瞬間將偏光資訊以影像...
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2020-1013
隨著技術的發展,光學薄膜的光學性能也在廠家的不斷提高,市場需要更好的產品,其中在液晶麵板吃起的成產中,也液晶貼的的一層膜的配向角度的優良很大程度上影響生產出來的液晶麵板的顯示效果的好壞。關於如何了解這一層配向膜(PI)的配向角度,研發人員一直沒有合適設備來測量,近期,日本的phl廠家帶來一款通過測量雙折射的方法來檢測配向角度的設備。測量示例:通過WPA-200的檢測,可以知道產品的雙折射大小和方向,內應力的分布情況,在經過分析得到數據。
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