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更新時間:2026-05-20
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| 品牌 | 其他品牌 | 線寬 | 250nm |
|---|---|---|---|
| 加工速率 | 18mm2/h | 激光波長 | 405nm(紫外) |
係統采用405nm 紫外激光為光源,結合聲光調製器與高精度振鏡協同控製,經高數值孔徑物鏡聚焦至光刻膠表麵;通過專用軟件導入設計圖形,直接轉化為激光掃描軌跡,逐點完成高精度曝光,全程無需掩模,大幅縮短研發周期、降低打樣成本。
最小線寬:0.25μm(250nm),滿足微納結構分辨率需求。
定位精度:XY 雙向重複定位精度≤120nm,最小移動步距≤50nm。
拚接精度:相鄰曝光區域拚接誤差≤150nm,大麵積加工無明顯接縫。
最大加工範圍可達48×48mm²,支持全域連續圖形製備;通過精密拚接技術,平衡大幅麵加工與亞微米級精度,適配微型顯示芯片等大麵積光電器件研發。
機身一體化集成,體積小巧,可直接放入手套箱內,在氮氣、氬氣等恒定惰性氛圍中運行,有效隔絕水汽、氧氣幹擾,適配鈣鈦礦、二維材料等氛圍敏感材料的加工與測試場景。
專用操作軟件支持圖形自由設計、修改與導入,兼容 GDS 等常用格式;支持多種曝光模式,兼顧科研小批量打樣與中試小批量生產,無需額外掩模製作,顯著縮短研發周期。
| 參數項 | 數值 |
|---|---|
| 激光波長 | 405nm(紫外) |
| 最小線寬 | 0.25μm |
| XY 重複定位精度 | ≤120nm |
| 最小移動步距 | ≤50nm |
| 最大加工麵積 | 48×48mm² |
| 拚接誤差 | ≤150nm |
| 加工速率 | 18mm²/h |
1. 光電器件研發:微型顯示芯片、LED、光電探測器、微透鏡陣列等微納結構圖形化製備。
2. 敏感材料研究:鈣鈦礦、二維材料、量子點等氛圍敏感材料的器件原型製備與工藝驗證。
3. MEMS 與傳感器:微機電係統、微電極、微流控芯片的高精度圖形加工。
4. 先進封裝:半導體先進封裝重分布層(RDL)、凸塊(Bumping)等環節圖案化。
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