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PHL 應力雙折射檢測儀PA係列PA-300-北京香蕉视频免费下载科技有限公司


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    PHL 應力雙折射檢測儀PA係列
    產品簡介：

    PHL 應力雙折射檢測儀PA係列由日本Photonic lattice公司開發，具備高精度和快速測量的特點。 該設備采用光子晶體偏光陣列片和獨特的雙折射算法，能在幾秒內完成從毫米級到接近500毫米樣品的雙折射測量，測量範圍為0-130nm。 其特點包括操作簡便、視野廣闊、無需旋轉光學濾片，並配備高像素偏振相機。 適用於光學鏡片、智能手機玻璃基板及藍寶石等材料的測量，支持多種分析功能和外部控製

    產品型號：PA-300

    更新時間：2025-12-31

    廠商性質：代理商

    訪問量：60

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    PHL 應力雙折射檢測儀PA係列

    PA係列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶體技術，針對玻璃、SIC晶圓、藍寶石等低應力雙折射的測量係統，數秒給出被測產品的應力雙折射大小和分布信息

    產品簡介:

    PHL 應力雙折射檢測儀PA係列針對高雙折射的透明材料開發的光學測量設備，通過核心的偏光圖像傳感器，可以快速準確的測量透明材料的應力雙折射，針對不同產品尺寸，均有可匹配的型號可供選擇。

    主要特點:

    可快速自動測量應力雙折射的大小、方向和分布

    麵測量、可一次測量視野範圍內樣品的全部數據

    具備點、線、麵、3D的分析功能

    500萬像素，高分辨能力

    可輸出光程差（nm）、偏振角度（°）、應力（Mpa）、應力雙折射（nm/mm）

    技術參數：

    PHL 應力雙折射檢測儀PA係列

    測量案例

    PHL 應力雙折射檢測儀PA係列

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