應力雙折射測量係統

• 型 號：WPA-200-L
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• 更新時間：2024-09-03
• 價   格：

應力雙折射測量係統WPA-200-L係列是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體製造技術開發的產品，*的測量技術，高速而又精q的測量能力使其成為不可多得的光學測量產品。 該產品在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全麵掌握應力分布。可測數千nm高相位差分布的萬用機器，Z適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

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應力雙折射測量係統產品簡介

   WPA-200-L係列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體製造技術開發的產品，*的測量技術，高速的測量能力使其成為不可多得的光學測量產品。

該產品在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全麵掌握應力分布。可測數千nm高相位差分布的萬用機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

應力雙折射測量係統WPA-200-L特點

u  操作簡單，測量速度可以快到3秒，

u  采用ＣＣＤ Camera，視野範圍內可一次測量，測量範圍廣。

u  測量數據是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數據。

u  具有多種分析功能和測量結果的比較。

u  維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

應力雙折射測量係統WPA-200-L主要應用

·         光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

·         透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

·         透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL）

·         透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鑽石）

·         有機材料（球晶、FishEve）

參數指標